2830 ZT 最先端の波長分散型蛍光X線分析 2830 ZT波長分散型蛍光X線(WDXRF)ウェハーアナライザは、膜厚・組成を測定するための究極の機能を提供します。パナリティカルの2830 ZTウェハーアナライザは半導体およびデータストレージ業界向けに開発されており、最大300 mmの各種ウェハーの層の組成、厚さ、ドーパント濃度、表面の均一性を測定できます。