PANalytical - 2830 ZT

2830 ZT

2830 ZTには、パナリティカルのSuperQソフトウェアが付属します。このソフトウェアには、マルチレイヤー分析用に特別に開発されたソフトウェアパッケージが含まれています。

優れた軽元素分析性能を発揮する2830 ZTが持つ主な特長により、2830 ZTの軽元素分析における感度と安定性が最大限まで引き上げられます。

この装置のソフトウェアには、研究者やエンジニアが容易に操作できるように、分り易いモジュール化を行っております。

SuperQ 薄膜解析ソフトウェアプラットフォームでは、正確なプロセス管理とウェハー分析をかつてないほど容易に実行できます。

X線メトロロジーは、大量生産・開発において化合物半導体を分析するための理想的なツールです。

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