2830 ZT

2830 ZT, PANalytical
特長

2830 ZTには、パナリティカルのSuperQソフトウェアが付属します。このソフトウェアには、マルチレイヤー分析用に特別に開発されたソフトウェアパッケージが含まれています。

2830 ZT, PANalytical
仕様

優れた軽元素分析性能を発揮する2830 ZTが持つ主な特長により、2830 ZTの軽元素分析における感度と安定性が最大限まで引き上げられます。

2830 ZT, PANalytical
どのように役に立つか

この装置のソフトウェアには、研究者やエンジニアが容易に操作できるように、分り易いモジュール化を行っております。

SuperQ Thin Film, PANalytical
SuperQ Thin Film

SuperQ 薄膜解析ソフトウェアプラットフォームでは、正確なプロセス管理とウェハー分析をかつてないほど容易に実行できます。

XPert ProThin Film, PANalytical
薄膜メトロロジーで使用

X線メトロロジーは、大量生産・開発において化合物半導体を分析するための理想的なツールです。

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