RoHS 2, REACH, WEEE, ELV

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効果的なスクリーニング、正確な監視

XRFは、RoHS 2、WEEE、ELVなどの規制を満たすために電気/電子機器について必要な分析を実施できる理想的な技術です。原料のヒ素などの含有を判別することで、製品へのREACH高懸念物質(SVHC)の含有に関連する罰則を回避することができます。XRDは化学物質を特定できるため、物質を比較し、REACHなどに従った物質登録を確認できます。


主なソリューション

  • RoHS標準物質: 独自の認証済み標準物質で、RoHS規制対象元素や、ポリオレフィンや同様の高分子素材中の添加剤を正確に分析できます。
  • 大型で不規則なものを含む各種サンプルを分析し、Cd、Hg、Pbなどの規制元素や、CrやBrなどの規制物質内の元素の存在を判別します。
  • 独自の標準物質を使用することで、低濃度の有害重元素や触媒残留物、ポリオレフィンや同様の高分子素材中の添加物を分析できます。
  • 「同一性」やREACHのその他の物質関連パラメータを特定します。

効果的なスクリーニング、正確な監視

エネルギー分散型XRFシステムであるEpsilon 3XLE は、100%からppmレベルの濃度範囲を定量分析することができます。これは、このシステムの数多くの利点の1つです。さらに、大型で不規則な形状のサンプルも測定できるため、RoHS 2などの規制の準拠性チェックに最適なツールです。

最速の産業用X線回折装置であるCubiX³は、産業用X線回折(XRD)アプリケーションに最適な装置で、プロセス最適化および品質管理で必要となる相分析を市販装置トップの速度で処理できます。REACHの全般的な同一性分析や、相分析による高懸念物質の確認をわずか数分で実行することができます。

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