薄膜測定

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XPert ProThin Film, PANalytical

薄膜測定

X線測定は、エピタキシャルの層構造LEDなどの大量生産・開発において化合物半導体の薄膜分析を行うのに最適なツールです。XRD、XRR、XRFなどのX線分析法をベースとした測定ツールは、エピタキシャル層、ヘテロ構造、超格子システムの重要な物質パラメータのex-situ検証で大きな効果を発揮することが実証されています。

XRD とは
物質研究

X線回折とは、構造情報を明らかにする唯一のラボテクニックです。
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全世界で事業を展開

パナリティカルは、60か国以上をカバーする究極の販売・サービスネットワークを展開しています。
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パナリティカルの主力製品
Zetium
成功に貢献

プロセスの生産性を高めるためにパナリティカルの製品が果たす役割。
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